发明名称 半导体电感器结构以及半导体电路装置
摘要 本发明提供了一种半导体电感器结构以及半导体电路装置。根据本发明的半导体电感器结构包括:第一金属叠层以及第二金属叠层;其中,所述第一金属叠层和所述第二金属叠层通过一个或多个通孔连接;所述通孔中填充有金属;所述第一金属叠层和所述第二金属叠层具有不同的叠层结构;其中,所述第一金属叠层由自上而下依次层叠的第三上叠层金属层、第四上叠层金属层、以及第五上叠层金属层组成;并且其中,所述第二金属叠层包括:自上而下依次层叠的第一下叠层金属层、第二下叠层金属层、第三下叠层金属层、第四下叠层金属层、以及第五下叠层金属层。
申请公布号 CN102800648A 申请公布日期 2012.11.28
申请号 CN201210313065.2 申请日期 2012.08.29
申请人 上海宏力半导体制造有限公司 发明人 黎坡
分类号 H01L23/522(2006.01)I;H01L23/528(2006.01)I 主分类号 H01L23/522(2006.01)I
代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人 郑玮
主权项 一种半导体电感器结构,其特征在于包括:第一金属层以及第二金属层;其中所述第一金属层以及所述第二金属层通过一个或多个通孔连接;所述通孔中填充有金属。
地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路818号