| 发明名称 | 用于估计设备的剩余寿命的系统和方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及并公开一种用于估计设备的剩余寿命的系统和方法。所述系统(10)包括联接到所述设备(12)的传感器(14)，其中所述传感器被配置成便于测量所述设备的操作参数(28)并且生成表示所述操作参数的测量信号(30)。所述系统包括数据库(24)，所述数据库包括上限值(32)、下限值(34)和参考参数(36)。系统的处理器(18)包括联接到所述传感器并且联接到所述数据库的电路(40)。所述处理器被配置成关联所述操作参数的测量和所述参考参数以便于估计所述设备的剩余寿命(RLP)。 | ||
| 申请公布号 | CN102798535A | 申请公布日期 | 2012.11.28 |
| 申请号 | CN201210179061.X | 申请日期 | 2012.05.24 |
| 申请人 | 通用电气公司 | 发明人 | A·M·里特;R·G·瓦戈纳;R·A·西摩尔 |
| 分类号 | G01M99/00(2011.01)I;G01R31/00(2006.01)I | 主分类号 | G01M99/00(2011.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 柯广华;王忠忠 |
| 主权项 | 一种用于估计设备(12)的寿命的系统(10)，所述系统包括：联接到所述设备(12)的传感器(14)，所述传感器被配置成便于测量所述设备的操作参数(28)并且生成表示所述操作参数的测量信号(30)；数据库(24)，所述数据库包括上限值(32)、下限值(34)和参考参数(36)；以及处理器(18)，所述处理器联接到所述传感器(14)并且联接到所述数据库，所述处理器包括积分器电路(48)，所述积分器电路被配置成计算所述参考参数的值的变化的绝对值的积分以便于估计所述设备的剩余寿命(RLP)，其中，所述参考参数的值的变化是在所述操作周期期间响应超过所述上限值和所述下限值中的至少一个的所述操作参数。 | ||
| 地址 | 美国纽约州 | ||