用于微分相衬成像的校正方法

摘要

本发明总体上涉及用于基于光栅的X射线微分相衬成像(DPCI)的校正方法以及能够有利地应用于X射线辐射照相术和层析成像的设备，用于对要扫描的样本对象或感兴趣解剖区域进行X射线DPCI。更确切地说，提出的发明提供了一种适当方式，有助于增强采集的X射线图像的图像质量，其受到相位缠绕的影响，例如，在Talbot-Lau型干涉仪的探测器平面中，在X射线束在相移分束光栅处衍射之后，所发射的所述X射线束的所得莫尔干涉图案中。这种问题被所获得的DPCI图像中的噪声进一步加重，如果所探测X射线图像中两个相邻像素之间的相位改变超过π弧度，就会发生这种问题，其受到对象局部相位梯度上线积分的影响，这种线积分诱发2π弧度的相位偏移误差，导致平行于所述线积分方向的显著线人为噪声。

主权项

1.一种借助于电磁波或物质波对对象(O)成像的设备，其中所述对象导致所述电磁波或物质波根据局部折射率改变相位信息，所述设备包括用于发射穿透所述对象的所述电磁波或物质波的辐射源(S)、用于探测这些电磁波或物质波的辐射探测器(D)以及用于在垂直于干涉仪设备光轴(OA)的至少一个横向方向(x)上获得表示所述对象的局部相位梯度的信息的处理模块(μP)，其中所述处理模块(μP)适于：确定噪声像素的像素位置和/或确定所述局部相位梯度在所探测相位梯度图像的哪些像素位置超过预定义阈值并将所有这些像素标记为“坏”，对所述局部相位梯度执行线积分，从而产生积分相位梯度图像，分析所述积分相位梯度图像以用于已标记为“坏”的强相位梯度像素后方出现的特性线伪影，并且如果分析表明在通过标记为“坏”的像素之后持续有因为所述线积分诱发的紧邻线伪影之间的实测2π相位偏移误差或其整数倍的相位偏移误差，则在每个“坏”像素位置引入2π弧度或其整数倍的校正相位偏移，以便补偿这一2π相位偏移误差或其整数倍的相位偏移误差。