发明名称 INTEGRATED CIRCUIT WITH SCAN CHAIN AND CHIP TESTING METHOD
摘要
申请公布号 EP2428808(A4) 申请公布日期 2012.11.28
申请号 EP20100823027 申请日期 2010.08.30
申请人 ACTIONS SEMICONDUCTOR CO., LTD. 发明人 XIE, WUHONG
分类号 G01R31/3185 主分类号 G01R31/3185
代理机构 代理人
主权项
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