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<p>Verfahren und einer Vorrichtung zur automatisierten Bestimmung der relativen Position (x/y/z) zwischen einer ersten Öffnung (27) an einer ersten Mikrosystemkomponente (11), mit einem in der ersten Öffnung (27) mündenden ersten Kanal (44) und zumindest einer zweiten Öffnung (29) an einer zweiten Mikrosystemkomponente (12), mit einem in der zweiten Öffnung (29) mündenden zweiten Kanal (45) in einem flüssigem Medium (41). An einer der beiden Mikrosystemkomponenten (12, 12) werden elektrische Signale (37) abgegeben, die an der anderen der beiden Mikrosystemkomponenten (11, 12) als Messwerte (38) aufgenommen werden, die von der relativen Position der beiden Mikrosystemkomponenten (11, 12) zueinander abhängen. Für unterschiedliche relative Positionen (x/y/z) zwischen den beiden Mikrosystemkomponenten (11, 12) werden Messwerte (38) bestimmt, aus denen in der Steuervorrichtung (15) ermittelt wird, in welcher relativen Position (xn/yn/zn) die beiden Mikrosystemkomponenten (11, 12) so zueinander zu positionieren sind, dass ihre Öffnungen (27, 29) zueinander ausgerichtet sind. Ausserdem wird die Verwendung des Verfahrens für patch-clamp Messungen an immobilisierten Zellen offenbart.</p> |
