发明名称 |
Silicium-auf Isolator-Hybridwafer mit Doppel-Box-Rückgate und Kanälen mit verbesserter Beweglichkeit |
摘要 |
Eine Halbleiterwaferstruktur für integrierte Schaltungseinheiten beinhaltet ein Vollsubstrat; eine auf dem Vollsubstrat ausgebildete untere Isolationsschicht; eine auf der unteren Isolationsschicht ausgebildete elektrisch leitende Rückgate-Schicht; eine auf der Rückgate-Schicht ausgebildete obere Isolationsschicht; und eine auf der oberen Isolationsschicht ausgebildete Halbleiter-auf-Isolator-Hybridschicht, wobei die Halbleiter-auf-Isolator-Hybridschicht einen ersten Abschnitt, der eine erste Kristallorientierung aufweist, und einen zweiten Abschnitt umfasst, der eine zweite Kristallorientierung aufweist.
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申请公布号 |
DE112010004307(T5) |
申请公布日期 |
2012.11.22 |
申请号 |
DE201011004307T |
申请日期 |
2010.11.03 |
申请人 |
INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION |
发明人 |
OUYANG, QIGING CHRISTINE;YAU, JENG-BANG;DENNARD, ROBERT HEATH |
分类号 |
H01L21/762;H01L21/336;H01L21/84;H01L27/12;H01L29/786 |
主分类号 |
H01L21/762 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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