| 主权项 |
一种面板检测、瑕疵显示及清洁作业系统，其包括：一光学自动检测机台，其至少具有一载台、一取像装置及一影像处理装置，其中，该载台可承载至少一待测面板，该取像装置可对该待测面板上是否有缺陷进行取像和自动辨识，该影像处理装置可撷取该缺陷之影像，并提供该缺陷之座标参数：以及至少一瑕疵显示及清洁作业机台，系耦接至该光学自动检测机台，其具有一显示器，该显示器上具有一使用者介面，且该显示器上具有由至少一挡块所形成之一区块，当该待测面板放置于该区块中时，该使用者介面根据该座标参数可精确定位及/或显示出该缺陷之位置，让作业人员可以快速判定该缺陷之种类，并选择以适当方式进行作业处置。如申请专利范围第1项所述之面板检测、瑕疵显示及清洁作业系统，其中该待测面板为一触控感应器（Touch Sensor）、 保护玻璃（Cover Glass）、薄膜电晶体液晶面板（TFT LCD）、有源矩阵有机发光二极体面板（AMOLED）或低温多晶矽面板（LTPS）。如申请专利范围第1项所述之面板检测、瑕疵显示及清洁作业系统，其中该挡块为透明或半透明挡块，用于承载该待测面板，防止该待测面板和该显示器接触，造成二次刮伤。如申请专利范围第1项所述之面板检测、瑕疵显示及清洁作业系统，其中该取像装置为一CMOS线扫描相机(CMOS line scan camera)、CMOS区域扫描相机(CMOS area scan camera)或CCD(Charge Coupled Device)线扫描相机。如申请专利范围第1项所述之面板检测、瑕疵显示及清洁作业系统，其中该影像处理装置为一相机或电性测试装置，其中该电性测试装置为一组探针。如申请专利范围第1项所述之面板检测、瑕疵显示及清洁作业系统，其中该缺陷为一脏污、刮伤或型态瑕疵（pattern defect）。如申请专利范围第1项所述之面板检测、瑕疵显示及清洁作业系统，其中该显示器为一平面显示器。如申请专利范围第1项所述之面板检测、瑕疵显示及清洁作业系统，其中该区块大于或等于该待测面板，且可依据该待测面板之大小进行调整。如申请专利范围第1项所述之面板检测、瑕疵显示及清洁作业系统，其中该使用者介面上进一步可显示该缺陷之影像资料及该缺陷之座标资料。如申请专利范围第1项所述之面板检测、瑕疵显示及清洁作业系统，其中该显示器可以调整其亮度。 |
