发明名称 电容式触控板的鬼影侦测方法
摘要 一种电容式触控板的鬼影侦测方法,该电容式触控板上的第一位置及第二位置出现鬼影现象,该侦测方法包括以同相或异相的同步讯号交错驱动该第一位置和第二位置上的X方向迹线及Y方向迹线,取得该第一位置及第二位置的电容值,较佳者,配合交叉调校,以更准确地藉由分辨手指的实际位置。
申请公布号 TWI377499 申请公布日期 2012.11.21
申请号 TW098105214 申请日期 2009.02.19
申请人 义隆电子股份有限公司 发明人 郭泊灏;蔡欣学;林旻致
分类号 G06F3/044 主分类号 G06F3/044
代理机构 代理人 黄重智 新竹市四维路130号13楼之7
主权项 一种电容式触控板的鬼影侦测方法,该电容式触控板上的第一位置及第二位置为鬼影候选位置,该第一位置及该第二位置具有相同的第一方向座标,该侦测方法包括下列步骤:(A)以第一讯号驱动该第一位置的第一方向迹线,并以与该第一讯号同步的第二讯号驱动该第一位置的第二方向迹线;(B)取得该第一位置的第一或第二方向迹线电容值;(C)以该第一讯号驱动该第二位置的第一方向迹线,并以该第二讯号驱动该第二位置的第二方向迹线;(D)取得该第二位置的第一或第二方向迹线电容值;以及(E)比较该第一位置的第一方向迹线电容值及该第二位置的第一方向迹线电容值或比较该第一位置的第二方向迹线电容值及该第二位置的第二方向迹线电容值,判断实际接触位置。如请求项1之鬼影侦测方法,其中该第二讯号与该第一讯号同步且同相。如请求项1之鬼影侦测方法,其中该第二讯号与该第一讯号同步但异相。如请求项1之鬼影侦测方法,其中步骤E包括:若该第一位置的第一或第二方向迹线电容值大于该第二位置的第一或第二方向迹线电容值,判断该第一位置为实际接触位置;以及若该第一位置的第一方向迹线电容值小于该第二位置的第一方向迹线电容值,判断该第二位置为实际接触位置。如请求项1之鬼影侦测方法,更包括下列步骤:以该第二讯号驱动该电容式触控板上任一第二方向迹线;以该第一讯号驱动并扫瞄该电容式触控板上所有的第一方向迹线;以及取得每一该第一方向迹线的电容值,以供调校该电容式触控板上各迹线的基本电容值。
地址 新竹市科学工业园区创新一路12号