发明名称 显示装置及显示控制方法与电子机器
摘要 本发明包含:第一光感测器(PS1),其系检测显示区(11)之外光光量;第二光感测器(PS2),其系检测遮光时之暗电流;切换开关(SW1,SW2),其系进行第一光感测器(PS1)与第二光感测器(PS2)之选择;比较器(102),其系进行被选择之第一光感测器(PS1)或第二光感测器(PS2)之输出与特定基准值之比较;及控制机构,其系将依据第一光感测器(PS1)之比较器(102)之比较结果与依据第二光感测器(PS2)之比较器(102)之比较结果之差分进行运算,按照该运算结果来控制给予显示区域之光量;而抑制由适用于显示装置之光感测器之性能偏差所造成之检测误差影响,准确地调整给予显示区域之光量。
申请公布号 TWI377388 申请公布日期 2012.11.21
申请号 TW097142246 申请日期 2008.10.31
申请人 显示器西股份有限公司 发明人 中西贵之;仲岛义晴
分类号 G02F1/133 主分类号 G02F1/133
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项 一种显示装置,其特征为包含:第一检测元件,其系检测外光之光量;第二检测元件,其系检测遮光时之暗电流;选择机构,其系选择前述第一检测元件与前述第二检测元件之任一方;比较器,其系于前述选择机构选择前述第一检测元件时进行前述第一检测元件之输出与第一特定基准值之比较,于前述选择机构选择前述第二检测元件时进行前述第二检测元件之输出与第二特定基准值之比较;基准值切换机构,其系于前述选择机构选择前述第一检测元件时,提供第一特定基准值至前述比较器,于前述选择机构选择前述第二检测元件时,提供第二特定基准值至前述比较器;控制机构,其系将由前述选择机构选择前述第一检测元件之情况下之由前述比较器所得之第一比较结果与由前述选择机构选择前述第二检测元件之情况下之由前述比较器所得之第二比较结果之差进行运算,依据该运算结果来控制给予前述显示区域之光量;其中前述第一特定基准值及前述第二特定基准值系被选择以抑制由第一检测元件及第二检测元件之间性能上之偏差所造成之该运算结果之误差。如请求项1之显示装置,其中于第一检测元件及前述第二检测元件被配置为检测前述暗电流之初始校准程序中,前述第一特定基准值及第二特定基准值系被选择;且前述基准值被调整直至前述选择机构选择前述第一检测元件之情况下前述比较器所获得之前述第一比较结果与前述选择机构选择前述第二检测元件之情况下前述比较器所获得之前述第二比较结果一致。如请求项1或请求项2之显示装置,其中进一步包含附加电容切换机构,其系针对共通地连接于前述第一、第二检测元件之附加电容,进行于由前述选择机构选择前述第一检测元件之情况下之第一附加电容与由前述选择机构选择前述第二检测元件之情况下之第二附加电容之切换。如请求项3之显示装置,其中于第一检测元件及前述第二检测元件被配置为检测前述暗电流之初始校准程序中,前述第一附加电容及第二附加电容系被选择;且前述电容值被调整直至前述选择机构选择前述第一检测元件之情况下前述比较器所获得之前述第一比较结果与前述选择机构选择前述第二检测元件之情况下前述比较器所获得之前述第二比较结果一致。一种显示控制方法,其系包含检测外光光量之第一检测元件及检测遮光时之暗电流之第二检测元件之显示装置之显示控制方法;该显示控制方法包含以下步骤:藉由前述第一检测元件检测与周边光量相应之电流,并运用比较器以藉由与第一特定基准值之比较来算出受光时之第一比较结果;藉由前述第二检测元件检测遮光时之暗电流,并运用比较器以藉由与第二特定基准值之比较来算出遮光时之第二比较结果;于前述第一检测元件耦合至前述比较器之情况下提供前述第一特定基准值至前述比较器,于前述第二检测元件耦合至前述比较器之情况下提供前述第二特定基准值至前述比较器;将前述受光时所得之第一比较结果与前述遮光时所得之第二比较结果之差进行运算,依据该运算结果来控制给予前述显示区域之光量;及选择前述第一特定基准值及前述第二特定基准值以抑制由第一检测元件及第二检测元件之间性能上之偏差所造成之运算结果之误差。如请求项5之显示控制方法,进一歩包含以下步骤:进行第一检测元件及前述第二检测元件被配置为检测前述暗电流之初始校准程序以选择前述第一特定基准值及前述第二特定基准值;前述基准值被调整直至前述第一检测元件耦合至前述比较器之情况下前述比较器所获得之前述第一比较结果与前述第二检测元件耦合至前述比较器之情况下前述比较器所获得之前述第二比较结果一致。如请求项5或请求项6之显示控制方法,其中针对共通地连接于前述第一、第二检测元件之附加电容,进行于以前述第一检测元件检测电流之情况之第一附加电容与以前述第二检测元件检测电流之情况之第二附加电容之切换。如请求项7之显示控制方法,进一歩包含以下步骤:进行前述第一检测元件及前述第二检测元件被配置为检测前述暗电流之初始校准步骤以选择前述第一附加电容及前述第二附加电容;前述电容值被调整直至前述第一侦测元件耦合至前述比较器之情况下前述比较器所获得之前述第一比较结果与前述第二侦测元件耦合至前述比较器之情况下前述比较器所获得之前述第二比较结果一致。如请求项7之显示控制方法,其中依据前述显示区域之周围温度来设定前述附加电容。一种电子机器,其系于壳体设有显示装置;其特征为:前述显示装置包含:第一检测元件,其系检测外光之光量;第二检测元件,其系检测遮光时之暗电流;选择机构,其系选择前述第一检测元件与前述第二检测元件之任一方;比较器,其系于前述选择机构选择前述第一检测元件时进行前述第一检测元件之输出与第一特定基准值之比较,于前述选择机构选择前述第二检测元件时进行由前述第二检测元件之输出与第二特定基准值之比较;基准值切换机构,其系于前述选择机构选择前述第一检测元件时,提供第一特定基准值至前述比较器,于前述选择机构选择前述第二检测元件时,提供第二特定基准值至前述比较器;控制机构,其系将由前述选择机构选择前述第一检测元件之情况下之由前述比较器所得之第一比较结果与由前述选择机构选择前述第二检测元件之情况下之藉由前述比较器所得之第二比较结果之差进行运算,依据该运算结果来控制给予前述显示区域之光量;其中前述第一特定基准值及前述第二特定基准值系被选择以抑制由第一检测元件及第二检测元件之间性能上之偏差所造成之该运算结果之误差。
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