发明名称 | 用于减薄半导体工件的系统 | ||
摘要 | 本发明提供一种用于加工半导体工件的系统。新的装置和方法允许生产更薄的、同时保持强固的工件。具体地说,提供了一种卡盘,所述卡盘包括主体、可拆卸地附连至所述主体的保持件、以及密封形成构件。当工件被放在卡盘主体上、且保持件被接合至主体时,所述工件背面的周边部被保持件覆盖,同时所述工件背面的内区域被暴露。所述工件被暴露的背面然后受到湿化学蚀刻工艺的处理,以减薄所述工件、并在工件的周边部处形成由半导体材料组成的相对较厚的边沿。所述较厚边沿或箍向否则会脆弱的减薄半导体工件给予了强度。本发明可为单个工件的减薄而提供或用于减薄成批的工件。根据本发明制造的半导体工件提供改进的结构,以便在传统自动设备中操纵减薄的晶片。这导致产量提高和加工效率提高。 | ||
申请公布号 | CN102790000A | 申请公布日期 | 2012.11.21 |
申请号 | CN201210101297.1 | 申请日期 | 2005.08.18 |
申请人 | 应用材料公司 | 发明人 | 柯特·L·德莱切克;罗蒙·F·汤姆普森 |
分类号 | H01L21/67(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/67(2006.01)I |
代理机构 | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人 | 徐金国 |
主权项 | 一种半导体工件,包括:主体,所述主体的厚度小于约150微米;以及边沿,所述边沿连接至所述主体,并且,所述边沿的厚度在约150至725微米的范围内。 | ||
地址 | 美国加利福尼亚州 |