发明名称 |
FRET测量方法及FRET测量装置 |
摘要 |
本发明提供一种FRET测量方法及FRET测量装置,在FRET测量方法中,对于感受体和向心配合体结合、且设置有第一分子和第二分子的测量样品照射激光,由此测量能量从第一分子转移到第二分子的FRET,该方法包括:将激光照射至样品上的步骤;对测量样品所发出的荧光进行测量的步骤;计算第一分子的荧光寿命的步骤;计算结合比率的步骤;设定测量样品的结合条件的步骤;计算解离常数的步骤,其中,在解离常数计算步骤中利用最小二乘法将样品中的感受体的全体浓度和解离常数作为变量的函数通过向结合比率计算步骤中计算出的结合比率拟合,由此求出解离常数。 |
申请公布号 |
CN102792153A |
申请公布日期 |
2012.11.21 |
申请号 |
CN201180013071.X |
申请日期 |
2011.05.06 |
申请人 |
三井造船株式会社 |
发明人 |
星岛一辉;中田成幸 |
分类号 |
G01N21/64(2006.01)I;G01N33/542(2006.01)I;G01N33/566(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/64(2006.01)I |
代理机构 |
北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 |
代理人 |
杨颖;白华胜 |
主权项 |
一种FRET测量方法,对于感受体和向心配合体结合、且设置有第一分子和第二分子的测量样品照射激光,由此测量能量从第一分子转移到第二分子的FRET(Fluorescence Resonance Energy Transfer:荧光共振能量转移),该方法包括下述步骤:激光照射步骤,将对强度进行时间调制了的激光照射所述测量样品上;测量步骤,测量被所述激光照射的所述测量样品所发出的荧光;荧光寿命计算步骤,利用在所述测量步骤所测量的荧光信号计算出第一分子的荧光寿命;结合比率计算步骤,利用在所述荧光寿命计算步骤所计算出的所述荧光寿命,计算出作为包含在所述测量样品中的所述感受体中发生FRET的感受体比率的结合比率;结合条件设定步骤,设定所述测量样品的结合条件,使得所述结合比率不同;解离常数计算步骤,计算出表示所述感受体和所述向心配合体的结合程度的解离常数;其中,所述解离常数计算步骤利用最小二乘法将所述测量样品中的所述感受体的全体浓度和所述解离常数作为变量的函数通过向所述结合比率计算步骤中计算出的所述结合比率拟合来求出所述解离常数。 |
地址 |
日本国东京都中央区筑地5丁目6番4号 |