发明名称 |
自动分析装置的反应容器及其表面处理法 |
摘要 |
本发明涉及自动分析装置的反应容器及其表面处理法。本发明的目的在于提供气泡附着少且可防止在邻接的反应容器间样品、试剂的相互污染的可靠性优良的反应容器、反应容器的表面处理法以及装载了该反应容器的自动分析装置。本发明在混合试样和试剂并进行浓度的测定的自动分析装置的反应容器中,其特征在于,在反应容器的内、外侧表面具有利用放电加工实施了亲水化处理的处理区域,反应容器具有上部开口且下部有封闭的底的容器形状,上述处理区域存在于从反应容器的底部直到向开口的中途。 |
申请公布号 |
CN101308157B |
申请公布日期 |
2012.11.21 |
申请号 |
CN200810107827.7 |
申请日期 |
2008.05.14 |
申请人 |
株式会社日立高新技术 |
发明人 |
三岛弘之;石泽宏明;远藤正史 |
分类号 |
G01N35/04(2006.01)I;G01N35/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01N35/04(2006.01)I |
代理机构 |
北京银龙知识产权代理有限公司 11243 |
代理人 |
熊志诚 |
主权项 |
一种自动分析装置用反应容器的表面处理法,所述反应容器用于混合试样和试剂并进行浓度的测定,其特征在于,具备插入反应容器内侧的第一电极和在反应容器的外侧相对配置的第二电极,上述第一电极具有在前端及/或周围存在吸气口的中空形状,通过对上述第一电极和上述第二电极施加的电压产生的放电,至少在反应容器的内侧表面上实施利用放电加工的亲水处理的同时,将在上述放电加工产生的含有臭氧的气体通过上述第一电极进行排气。 |
地址 |
日本东京都 |