一种63路E1同时测量的PTN测试仪

摘要

本实用新型公开了一种63路E1同时测量的PTN测试仪，由E1功能模块、SDH功能模块、时延电路及各种测试接口如PDH接口、SDH接口组成，关键是：还包括FPGA处理器、CPU处理器、人机交互界面和电源控制管理电路；测试信号通过对应的测试接口连接到相应的功能模块，在FPGA控制器和CPU处理器的控制下，完成各种测试项目；通过人机交互界面下达指令，能轻易实现E1测试、SDH测试保护63路E1同时测试等功能。本实用新型操作简易快捷，能同时测试63路E1的误码率、环路时延和保护倒换时延等问题且提高测试效率的63路E1同时测量的PTN测试仪。

主权项

一种63路E1同时测量的PTN测试仪，由E1功能模块、SDH功能模块、时延电路及各种测试接口如PDH接口、SDH接口组成，其特征是：还包括FPGA处理器、CPU处理器、人机交互界面和电源控制管理电路；测试信号通过对应的测试接口连接到相应的功能模块，在FPGA控制器和CPU处理器的控制下，完成各种测试项目；通过人机交互界面下达指令，能轻易实现E1测试、SDH测试保护63路E1同时测试等功能；其中E1模块用于PDH测试，SDH模块用于SDH测试。