一种存储芯片检测装置

摘要

本实用新型涉及存储芯片，尤其是一种从不同读写速度下检测存储芯片存储功能是否正常的存储芯片检测装置。本实用新型针对高密度封装、高集成度的存储芯片在产品研发、生产过程中，时常出现不合格品，或因批次、产地不同的芯片因某些技术参数差异而影响使用的现象，设计了一种在不同工作时钟下存储芯片的存储是否满足使用要求，从而避免了将不合格芯片焊接在电路板上后由此引产生的人力物力损失。本实用新型包括微处理芯片、存储检测装置、时钟开关控制装置，所述微处理芯片分别与存储检查装置、时钟开关控制装置连接，所述存储装置包括至少一个检测装置，所述检测装置与微处理芯片连接。本实用新型主要应用于存储芯片检测领域。

主权项

一种存储芯片检测装置，包括电源装置，其特征在于包括微处理芯片、存储检测装置、时钟开关控制装置，所述微处理芯片分别与存储检查装置、时钟开关控制装置连接，所述存储装置包括至少一个检测装置，所述检测装置与微处理芯片连接，所述电源装置分别与微处理芯片、检测装置、时钟开关控制装置供电连接。