发明名称 VDMOS晶体管兼容LDMOS晶体管及其制作方法
摘要 一种VDMOS晶体管兼容LDMOS晶体管的制作方法,包括:提供具有LDMOS晶体管区和VDMOS晶体管区的衬底;在衬底内形成N埋层区域;在N埋层区域上形成外延层;在LDMOS晶体管区VDMOS晶体管区形成隔离区;在LDMOS晶体管区形成漂移区;在LDMOS晶体管区和VDMOS晶体管区形成栅极;在LDMOS晶体管区VDMOS晶体管区形成PBODY区;在LDMOS晶体管区形成N型GRADE区;在VDMOS晶体管区形成NSINK区,所述NSINK区与N埋层区域连通;在LDMOS晶体管区VDMOS晶体管区形成源极和漏极;在LDMOS晶体管区形成P+区,P+区与源极相接。本发明实现了高压和大电流的性能需求。
申请公布号 CN102054774B 申请公布日期 2012.11.21
申请号 CN200910209187.5 申请日期 2009.10.28
申请人 无锡华润上华半导体有限公司;无锡华润上华科技有限公司 发明人 桂林春;王乐;赵志勇;何丽丽
分类号 H01L21/8234(2006.01)I;H01L27/088(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I 主分类号 H01L21/8234(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 李丽
主权项 一种VDMOS晶体管兼容LDMOS晶体管的制作方法,其特征在于,包括:提供衬底,所述衬底具有LDMOS晶体管区和VDMOS晶体管区;向衬底注入离子,形成N埋层区域;在N埋层区域上形成外延层后,向外延层注入离子,在LDMOS晶体管区形成N阱和P阱,在VDMOS晶体管区形成高压N阱;在LDMOS晶体管区的N阱和P阱交界处及LDMOS晶体管区和VDMOS晶体管区交界处形成隔离区;在LDMOS晶体管区的P阱区域形成漂移区;在LDMOS晶体管区的P阱区域的部分外延层和部分漂移区上,以及在VDMOS晶体管区形成栅极;在LDMOS晶体管区的栅极和隔离区之间的外延层内,以及在VDMOS晶体管区的栅极之间的外延层内形成PBODY区;在LDMOS晶体管区的漂移区之间的外延层内注入N型离子,并经过退火工艺后,使N型离子扩散均匀且深度加大,形成N型GRADE区;在VDMOS晶体管区的隔离区与邻近栅极之间的外延层内注入N型离子,形成NSINK区,所述NSINK区与N埋层区域连通;在LDMOS晶体管区的PBODY区内形成源极,在N型GRADE区内形成漏极,以及在VDMOS晶体管区的PBODY区内形成源极,在NSINK区内形成漏极;在LDMOS晶体管区的PBODY区形成P+区,所述P+区与源极相接。
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