发明名称 Verfahren zur 3D-Messung von Objekten
摘要 Aufgabe war es, Objekte mit geringem Aufwand, schnellstmöglich und hochgenau dreidimensional zu vermessen. Erfindungsgemäß wird zumindest ein statistisches optisches Muster, vorzugsweise eines Lichtbilds (3) von einem Projektor (4), zur standortunterschiedlichen Detektion und dreidimensionalen Auswertung auf die zu vermessende Oberfläche (2) eines Objekt (1) abgebildet und dort in Lage und/oder Form, beispielsweise durch einen motorisch (6) bewegten Umlenkspiegel (5) beliebig verändert. Das Verfahren wird zur schnellen und hochauflösenden optische Oberflächenvermessung, wie der Qualitätskontrolle, eingesetzt.
申请公布号 DE102011101476(A1) 申请公布日期 2012.11.15
申请号 DE201110101476 申请日期 2011.05.11
申请人 FRIEDRICH-SCHILLER-UNIVERSITAET JENA 发明人 KOWARSCHIK, RICHARD;GROSE, MARCUS;SCHAFFER, MARTIN;HARENDT, BASTIAN
分类号 G01B11/25 主分类号 G01B11/25
代理机构 代理人
主权项
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