发明名称 介质记录再现装置以及介质记录再现方法
摘要 本发明提供一种介质记录再现装置以及介质记录再现方法,在于解决由于DFL登记数达到极限而产生的光盘无法记录的问题和记录数据再现时的存取性能低下的问题。校验中的缺陷簇所夹的正常再现簇也作为缺陷簇进行处理并向替换区域记录,与前后的缺陷簇合并而扩大能够进行CRD登记的范围。由此,抑制DFL数从而解决光盘无法记录的问题,通过抑制搜索次数,能够防止再现时的存取性能低下。
申请公布号 CN101826361B 申请公布日期 2012.11.14
申请号 CN200910168245.4 申请日期 2009.08.20
申请人 日立民用电子株式会社 发明人 赤星健司
分类号 G11B20/18(2006.01)I;G11B7/007(2006.01)I 主分类号 G11B20/18(2006.01)I
代理机构 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人 龙淳
主权项 一种具有缺陷管理功能的记录再现装置,使用具有用户数据区域、替换区域和使用替换区域时进行更新的管理信息储存区域的介质,以规定的记录扇区为单位进行记录再现,其特征在于:在缺陷管理处理中,在替换源扇区为1个所述记录扇区时,作为重新分配缺陷进行缺陷列表登记,在替换源扇区为连续的所述记录扇区时,作为连续重新分配缺陷进行缺陷列表登记,所述记录再现装置包括:进行校验处理的校验单元,在所述校验处理中,对所记录的数据进行再现并对再现结果进行判断;缺陷列表登记决定单元,根据来自所述校验单元的结果决定缺陷列表登记的种类;管理信息储存单元,根据所述缺陷列表登记决定单元的结果向所述管理信息储存区域储存含有缺陷列表信息的管理信息;和替换数据记录单元,根据所述缺陷列表登记决定单元的结果向所述替换区域记录替换数据,所述缺陷列表登记决定单元,将所述用户数据区域内的以重新分配缺陷或者连续重新分配缺陷登记的缺陷扇区所夹的、没有记录在所述替换区域的记录扇区作为缺陷扇区进行处理,与前后的重新分配缺陷或者连续重新分配缺陷合并而作为连续重新分配缺陷的一部分进行登记。
地址 日本东京都