发明名称 用于测量电开关器件中的接触磨蚀的方法和系统
摘要 本发明涉及一种利用新颖的动态电阻测量(DRM)来测量电开关器件(1)中的接触磨蚀的方法和装置。根据本发明,为了确定开关器件(1)中的重叠时间(ΔT)和接触磨蚀,通过测量出通过开关器件(1)和并联导体(12)的测量电流(I0),以及并联导体(12)中的电流改变(ΔI1),间接测量出开关器件(1)两端的电流变化ΔI2。其它示例性实施例涉及以下内容:利用Rogowski线圈(8a)检测并联导体(12)中的差分电流测量信号(ΔI1(t),dI1(t)/dt);选择开关电阻(R2)的数量级的并联导体电阻(R1)。优点包括:即使在数A的较低测量电流I0,开关电阻(R2)的μΩ范围内的小改变(ΔR2)也导致数百mA范围内的大电流改变。结果,可以提供手持便携式DRM测量设备。
申请公布号 CN1976147B 申请公布日期 2012.11.14
申请号 CN200610140319.X 申请日期 2006.11.27
申请人 ABB技术有限公司 发明人 马雷克·哈格尔;帕特里克·费尔曼
分类号 H02B13/065(2006.01)I 主分类号 H02B13/065(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 杜诚;陈炜
主权项 一种用于测量电开关器件(1)中的接触磨蚀的方法,所述电开关器件包括具有额定电流接触系统(3)的额定电流路径(2)和具有自耗接触系统(5)的自耗接触电流路径(4),所述方法包括测量所述额定电流接触系统(3)的分离和所述自耗接触系统(5)的分离之间的重叠时间(ΔT),并且从其确定出所述自耗接触系统(5)的磨蚀,其特征在于,所述测量重叠时间(ΔT)的步骤包括:a)从来自测量电流源(11)的馈送电流(I0)分流出第一电流(I2)和第二电流(I1),b)所述第一电流(I2)传送过所述开关器件(1),并且所述第二电流(I1)通过与所述开关器件(1)并联设置的并联导体(12)与所述开关器件(1)并联地传送,以及c)利用测量系统(7)检测出所述第二电流(I1),从作为时间(t)的函数的所述第二电流(I1)的改变确定出所述重叠时间(ΔT),其中,在步骤c)中,利用电流传感器(8,8a)检测出表征所述第二电流(I1)的作为时间(t)的函数的电流测量信号(I1(t),ΔI1(t),dI1(t)/dt),由于所述额定电流接触系统(3)被分离时的电阻改变,所述电流测量信号(I1(t),ΔI1(t),dI1(t)/dt)中的第一符号(13a,14a)被测量出,并且由于所述自耗接触系统(5)被分离时的电阻改变,所述电流测量信号中的第二符号(13b,14b)被测量出,并且从所述第一和第二符号(13a,14a;13b,14b)的时刻之间的差确定出所述重叠时间(ΔT)。
地址 瑞士苏黎世