一种检测探针卡试打位置的测试键

摘要

本实用新型提出一种检测探针卡试打位置的测试键，所述测试键设置有用于衡量探针卡试打位置的标尺。试打人员根据标尺标示出针痕位置清晰地判断并调整试打位置，避免了凭借试打人员的直觉试打，这样不仅降低了由于试打针痕异常导致的测试异常，还降低了试打人员分析异常的次数，晶片重测次数，提高了产能利用率。

主权项

一种检测探针卡试打位置的测试键，其特征在于，所述测试键设置有用于衡量探针卡试打位置的标尺。