| 发明名称 | 焊缝跟踪检测设备 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种焊缝跟踪检测设备，包括：用于对焊缝成像的成像器件；用于产生结构光的结构光发生器；以及光学器件，所述光学器件可反射和可折射光以将所述结构光发生器发射出的结构光分成照射到焊缝上的折射光和反射光。根据本发明的焊缝跟踪检测设备，通过采用光学器件的反射和折射性质来达到结构光的分光效果，实现对结构光的分光，可对形状复杂的曲线焊缝进行检测跟踪。 | ||
| 申请公布号 | CN101934418B | 申请公布日期 | 2012.11.14 |
| 申请号 | CN201010238683.6 | 申请日期 | 2010.07.26 |
| 申请人 | 清华大学 | 发明人 | 郑军;潘际銮 |
| 分类号 | B23K9/127(2006.01)I;G01B11/00(2006.01)I | 主分类号 | B23K9/127(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人 | 宋合成 |
| 主权项 | 一种焊缝跟踪检测设备，其特征在于，包括：用于对焊缝成像的成像器件；用于产生结构光的结构光发生器；以及光学器件，所述光学器件可反射和折射光以将所述结构光发生器发射出的结构光分成照射到焊缝上的折射光和反射光。 | ||
| 地址 | 100084 北京市100084-82信箱 | ||