发明名称 | 一种锰钴镍氧线列探测器的微台面制作方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种锰钴镍氧线列探测器的微台面制作方法。其采用湿法腐蚀与干法刻蚀相结合的方法,完成了6-10微米厚的锰钴镍氧薄膜材料的刻蚀,得到了图形转移精度较高、台面平整度好、侧蚀比小的线列探测元微台面。为锰钴镍线列及阵列探测器的发展打下了良好的基础。 | ||
申请公布号 | CN102774806A | 申请公布日期 | 2012.11.14 |
申请号 | CN201210211471.8 | 申请日期 | 2012.06.25 |
申请人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明人 | 黄志明;周炜;张雷博;吴敬;褚君浩 |
分类号 | B81C1/00(2006.01)I | 主分类号 | B81C1/00(2006.01)I |
代理机构 | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人 | 郭英 |
主权项 | 一种锰钴镍氧线列探测器的微台面制作方法,其特征在于具体步骤如下:步骤A:取一片在白宝石片上利用化学溶液法制作的,膜厚在6‑10微米之间的锰钴镍氧薄膜样品片,进行常规方法清洗、干燥、掩膜光刻;步骤B:在33℃‑36℃的水浴条件下、使用质量分数38%‑42%的氢溴酸对薄膜样品进行5.5‑6.5分钟的湿法刻蚀、清洗、干燥;步骤C:干法刻蚀30‑60分钟,去胶、清洗、干燥;步骤D:根据化学溶液法所涉及到的样片的层数估计总膜厚,依据锰钴镍氧薄膜的厚度,重复步骤A、B、C中的各步,直至得到所需探测元台面。 | ||
地址 | 200083 上海市虹口区玉田路500号 |