发明名称 | 一种研磨棒直径检测方法以及装置 | ||
摘要 | 本发明涉及一种研磨棒直径检测方法以及装置,通过测量信号发生器发射测量光束在垂直方向长度为L,信号接收器接收到研磨棒上部分未被遮挡的光束投影长度L1,测量接收到研磨棒下部分未被遮挡的光束投影长度L2,根据公式计算研磨棒的直径数值,还提供实施研磨棒直径检测方法的一种研磨棒直径检测装置,由带有数据线缆的对射测头组成。本发明在对研磨棒测量过程中,对研磨棒自身无任何损伤,可为后续用该研磨棒加工精密轴类零件提供精度保证,通过电脑监控更快速、准确地测量出研磨棒的直径公差,为严格控制研磨棒生产质量指标提供科学检测方法。 | ||
申请公布号 | CN102778205A | 申请公布日期 | 2012.11.14 |
申请号 | CN201210236885.6 | 申请日期 | 2012.07.10 |
申请人 | 昆山腾宇鑫金属制品有限公司 | 发明人 | 夏发平 |
分类号 | G01B11/08(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/08(2006.01)I |
代理机构 | 北京市振邦律师事务所 11389 | 代理人 | 李朝辉 |
主权项 | 一种研磨棒直径检测方法,包括以下步骤:A、通过信号发生器发射测量光束,测量光束处于垂直截面内,足够覆盖研磨棒直径,测量信号发生器发射的测量光束在垂直方向长度为L;B、将研磨棒放入光束中,测量光束的一部分光被研磨棒挡住无法进入到对面的信号接收器内;C、信号发生器对面的信号接收器接收到研磨棒上部分未被遮挡的光束,以及收到研磨棒下部分未被遮挡的光束;D、测量对面的信号接收器接收到研磨棒上部分未被遮挡的光束投影长度L1,测量接收到研磨棒下部分未被遮挡的光束投影长度L2;E、根据实际研磨棒直径计算公式为:D=L‑L1‑L2,计算研磨棒的直径数值。 | ||
地址 | 215322 江苏省苏州市昆山市金沙江路1号1幢 |