发明名称 一种利用组合偏振片和多缝衍射法测量偏振态的装置
摘要 一种利用组合偏振片和多缝衍射法测量偏振态的装置,涉及一种测量偏振态的装置,它为了解决现有测量装置应用成本高,且只能测量单一波长偏振光的问题,它包括一号偏振片、二号偏振片、二元光栅、凸透镜、CCD探测器和数据处理单元,一号偏振片与二号偏振片位于同一平面内且固定连接形成一体结构,一号偏振片位于二号偏振片的正上方,二元光栅与一号偏振片所在平面相平行、凸透镜的光轴垂直于一号偏振片平面,二元光栅位于一号偏振片与凸透镜之间,CCD探测器位于凸透镜的另一侧,且所述CCD探测器的光敏面位于所述凸透镜的焦平面上,CCD探测器的信号输出端连接在数据处理单元的数据输入端。适用于测量偏振态。
申请公布号 CN202533175U 申请公布日期 2012.11.14
申请号 CN201220210909.6 申请日期 2012.05.11
申请人 黑龙江工程学院 发明人 白云峰;包诠真;李林军;贺泽龙
分类号 G01J4/00(2006.01)I 主分类号 G01J4/00(2006.01)I
代理机构 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人 张宏威
主权项 一种利用组合偏振片和多缝衍射法测量偏振态的装置,其特征是,它包括一号偏振片(1)、二号偏振片(2)、二元光栅(3)、凸透镜(4)、CCD探测器(5)和数据处理单元(6),一号偏振片(1)的透光轴方向与X轴之间的夹角为γ,‑90°<γ<90°、γ≠0°和γ≠±45°;二号偏振片(2)的透光轴方向与Y轴方向平行,一号偏振片(1)和二号偏振片(2)大小相同,一号偏振片(1)与二号偏振片(2)位于同一平面内且固定连接形成一体结构,一号偏振片(1)位于二号偏振片(2)的正上方,X轴和Y轴为直角坐标系,二元光栅(3)与一号偏振片(1)所在平面相平行、凸透镜(4)的光轴垂直于所述一号偏振片(1)所在平面,二元光栅(3)位于一号偏振片(1)所在平面与凸透镜(4)之间,CCD探测器(5)位于凸透镜(4)的另一侧,且所述CCD探测器(5)的光敏面位于所述凸透镜(4)的焦平面上,CCD探测器(5)的信号输出端连接在数据处理单元(6)的数据输入端。
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