发明名称 化学机械抛光设备硅片清洗装置
摘要 本发明提供了一种化学机械抛光设备硅片清洗装置,涉及化学机械抛光设备技术领域。具有硅片定位托,硅片定位托固定在中心板上,中心板上设有硅片定位托起及复位装置,并设有硅片旋转装置。本发明很好解决了现有技术中长期存在且一直未解决的问题,采用此装置可以实现硅片的准确定位、可靠清洗及复位,使硅片得到高洁净度和高效的清洗效果,少报废,降低成本;用途广,适用于晶体管和集成电路生产的各工序中硅片的清洗,尤其适用于化学机械抛光后的硅片清洗,不仅可以大大提高硅片抛光片表面的洁净度,而且可以更好地服务于抛光后的终点检测。
申请公布号 CN101716585B 申请公布日期 2012.11.14
申请号 CN200910175353.4 申请日期 2009.12.14
申请人 中国电子科技集团公司第四十五研究所 发明人 高文泉;王东辉;陈波;廖垂鑫;陈威;柳滨
分类号 B08B13/00(2006.01)I 主分类号 B08B13/00(2006.01)I
代理机构 石家庄新世纪专利商标事务所有限公司 13100 代理人 张贰群
主权项 一种化学机械抛光设备硅片清洗装置,其特征在于具有硅片定位托(100),硅片定位托(100)固定在中心板(105)上,中心板(105)上设有硅片定位托起及复位装置,并设有硅片旋转装置,所述的硅片定位托起及复位装置的结构为:中心板(105)上设有3个或3个以上向中心辐射状排列的条形孔(101),条形孔(101)中设有内边缘具有楔角的手指垫滑块(204),内边缘具有楔角的手指垫滑块(204)和拉钩(206)间为转动连接,各拉钩(206)均与转盘相绞联,转盘与动力传动机构相连。
地址 065201 河北省三河市燕郊开发区(北京东燕郊经济开发区)海油大街20号