可拆式测试治具

摘要

本创作系揭露一种测试治具。根据本创作之可拆式测试治具，具有快速组装及拆卸后可重复使用之特点；传统之专用型治具为一紧迫式植针治具，拆卸后大多数零件皆无法重复使用；随着电子产品日新月异，因此传统之专用型测试治具可使用时间越来越短，只要电子零件一有变动，该传统之专用型治具便报废无法使用；本创作之可拆式测试治具当电子零件变动时，测试治具拆卸后90%以上之零件皆可重复使用，该可拆式测试治具可以测试印刷电路板、半导体封装元件或晶圆等。

主权项

一种可拆式测试治具，该可拆式测试治具包含：一多层植针面板，该多层植针面板内乃依电路之回路设定测试点，并且在测试点植入探针，多层植针面板中至少有一层，可横向位移紧迫固定探针；一支撑架，该支撑架用以连接多层植针面板及底座，并提供强固支撑力以承受测试机之下压力；一底座，该底座用以固定于测试机；以及一连接器组，多层植针面板后方为连接器组，连接器组用以连接测试机及可拆式测试治具之回路。如申请专利范围第1项所述之可拆式测试治具，也可在可拆式测试治具之多层植针面板中置入软性皮膜加强紧迫探针，软性皮膜可以是橡胶、矽胶或是塑胶。