交错式影像处理方法及装置

摘要

一种交错式影像处理方法及实现该方法的装置。该方法适用于交错处理所产生的包括复数列扫描讯号的图场，且包含以下步骤：对一目前图场进行横线侦测，以找出哪些列扫描讯号是横线；根据该横线侦测结果及一先前图场的横线侦测结果，调整该目前图场中横线的位置，以靠近该先前图场中相对应横线的位置；及根据该位置调整结果，重新取样该目前图场。

主权项

一种交错式影像处理方法，适用于交错处理所产生的包括复数列扫描讯号的图场，且包含以下步骤：对一目前图场进行横线侦测，以找出哪些列扫描讯号在一萤幕上被显示时是横线；根据该横线侦测结果及一先前图场的横线侦测结果，调整该目前图场中横线的位置，以靠近该先前图场中相对应横线的位置；及根据该位置调整结果，重新取样该目前图场。依据申请专利范围第1项所述之方法，其中该调整位置之步骤更包含：当该目前图场是一上图场时，将其中非横线的扫描讯号往上移动。依据申请专利范围第1项所述之方法，其中该横线侦测之步骤包含：对一扫描讯号的每一像素做一特定判断，其中该特定判断系判断该像素是否符合至少一特定条件。依据申请专利范围第3项所述之方法，其中当该像素与其左方像素之像素差值小于一第一临界值，并且该像素与其上方像素之像素差值大于一第二临界值时，将一横线计数值加1。依据申请专利范围第4项所述之方法，其中如果该横线计数值大于一横线计数临界值，该扫描讯号是横线。依据申请专利范围第3项所述之方法，其中当该像素与其左方像像素之像素差值小于一第三临界值，该像素与其上方像素之像素差值小于一第四临界值，并且该像素之上方扫描讯号是横线时，该扫描讯号是横线。依据申请专利范围第1项所述之方法，其中该调整位置之步骤包含：使用查表方式得到该等扫描讯号的位移，以调整横线位置。依据申请专利范围第1项所述之方法，其中该取样之步骤是根据该位置调整结果，计算相邻扫描讯号之间的距离，并根据计算出的距离及一固定取样间隔，计算取样点的相位。依据申请专利范围第8项所述之方法，其中该取样之步骤是根据该取样点相位，以内插方式计算该目前图场的扫描讯号。依据申请专利范围第8项所述之方法，其中该位置调整结果是以扫描讯号的位移来表示，且该位移之方向系对应于该位移之值。依据申请专利范围第8项所述之方法，其中该计算距离之步骤系利用一第一特定公式。依据申请专利范围第11项所述之方法，其中该第一特定公式包含：一扫描讯号与其上方扫描讯号之间的距离=(该上方扫描讯号的位移+1)-该扫描讯号的位移。依据申请专利范围第8项所述之方法，其中该计算取样点之步骤包含：目前剩余相位=二扫描讯号之间的总相位-上方取样点的相位，如果剩余相位>固定取样间格/上方取样点的上、下方扫描讯号之间的距离，则目前的变动取样间隔=固定取样间格/上方取样点的上、下方扫描讯号之间的距离，而目前取样点的相位=上方取样点的相位+目前的变动取样间隔，否则，目前取样点的相位=(固定取样间格-目前剩余相位×上方取样点的上、下方扫描讯号之间的距离)/目前取样点的上、下方扫描讯号之间的距离。依据申请专利范围第9项所述之方法，其中该计算扫描讯号之步骤包含：输出像素值=(取样点的下方像素值-取样点的上方像素值)×取样点的相位/二扫描讯号之间的总相位+取样点的上方像素值。依据申请专利范围第1项所述之方法，其中该取样之步骤更包含：根据该横线侦测结果及该先前图场的横线侦测结果，调整该目前图场中横线的宽度，以接近该先前图场中相对应横线的宽度，且根据宽度调整结果，重新取样该目前图场。依据申请专利范围第15项所述之方法，其中该取样之步骤是根据该位置调整结果，计算相邻扫描讯号之间的距离，并根据计算出的距离及一固定取样间隔，计算取样点的相位，且根据调整后的取样点相位，以内插方式计算该目前图场的扫描讯号。依据申请专利范围第16项所述之方法，其中该位置调整结果是以扫描讯号的位移来表示，且该位移之方向系对应于该位移之值。依据申请专利范围第16项所述之方法，其中该计算距离的方式是：一扫描讯号与其上方扫描讯号之间的距离=(该上方扫描讯号的位移+1)-该扫描讯号的位移。依据申请专利范围第16项所述之方法，其中该计算取样点的方式是：目前剩余相位=二扫描讯号之间的总相位-上方取样点的相位，如果剩余相位>固定取样间格/上方取样点的上、下方扫描讯号之间的距离，则目前的变动取样间隔=固定取样间格/上方取样点的上、下方扫描讯号之间的距离，而目前取样点的相位=上方取样点的相位+目前的变动取样间隔，否则，目前取样点的相位=(固定取样间格-目前剩余相位×上方取样点的上、下方扫描讯号之间的距离)/目前取样点的上、下方扫描讯号之间的距离。依据申请专利范围第16项所述之方法，其中该取样之步骤是使用余弦函数来调整计算出的取样点相位。依据申请专利范围第16项所述之方法，其中该计算扫描讯号的方式是：输出像素值=(调整后取样点的下方像素值-调整后取样点的上方像素值)×调整后取样点的相位/二扫描讯号之间的总相位+调整后取样点的上方像素值。一种交错式影像处理装置，适用于交错处理所产生的包括复数列扫描讯号的图场，且包含：一横线侦测单元，对一目前图场进行横线侦测，以找出哪些列扫描讯号在一萤幕上被显示时是横线；一位置调整单元，根据该横线侦测单元的横线侦测结果及一先前图场的横线侦测结果，调整该目前图场中横线的位置，以靠近该先前图场中相对应横线的位置；及一计算单元，根据该位置调整单元的位置调整结果，重新取样该目前图场。依据申请专利范围第22项所述之装置，其中，当该目前图场是一上图场时，该位置调整单元更将其中非横线的扫描讯号往上移动半条线。依据申请专利范围第22项所述之装置，其中该横线侦测单元侦测横线的方式是：对一扫描讯号的每一像素做一特定判断，其中该特定判断系判断该像素是否符合至少一特定条件。依据申请专利范围第24项所述之装置，其中当该像素与其左方像素之像素差值小于一第一临界值，并且该像素与其上方像素之像素差值大于一第二临界值时，将一横线计数值加1。依据申请专利范围第25项所述之装置，其中如果该横线计数值大于一横线计数临界值，该扫描讯号是横线。依据申请专利范围第24项所述之装置，其中当该像素与其左方像像素之像素差值小于一第三临界值，该像素与其上方像素之像素差值小于一第四临界值，并且该像素之上方扫描讯号是横线时，该扫描讯号是横线。依据申请专利范围第22项所述之装置，其中，该位置调整单元是使用查表方式得到扫描讯号的位移，以调整横线位置。依据申请专利范围第22项所述之装置，其中该计算单元包括一相位计算单元，该相位计算单元根据该位置调整单元的位置调整结果，计算相邻扫描讯号之间的距离，并根据计算出的距离及一固定取样间隔，计算取样点的相位。依据申请专利范围第29项所述之装置，其中该计算单元包括一资料计算单元，该资料计算单元根据该相位计算单元计算出的取样点相位，以内插方式重新计算该目前图场的扫描讯号。依据申请专利范围第29项所述之装置，其中该位置调整单元的位置调整结果是以扫描讯号的位移来表示。依据申请专利范围第29项所述之装置，其中该相位计算单元计算取样点的方式是：目前剩余相位=二扫描讯号之间的总相位-上方取样点的相位，如果剩余相位>固定取样间格/上方取样点的上、下方扫描讯号之间的距离，则目前的变动取样间隔=固定取样间格/上方取样点的上、下方扫描讯号之间的距离，而目前取样点的相位=上方取样点的相位+目前的变动取样间隔，否则，目前取样点的相位=(固定取样间格-目前剩余相位×上方取样点的上、下方扫描讯号之间的距离)/目前取样点的上、下方扫描讯号之间的距离。依据申请专利范围第29项所述之装置，其中该资料计算单元计算扫描讯号的方式是：输出像素值=(取样点的下方像素值-取样点的上方像素值)×取样点的相位/二扫描讯号之间的总相位+取样点的上方像素值。依据申请专利范围第22项所述之装置，其中该计算单元更根据该横线侦测单元的横线侦测结果及该先前图场的横线侦测结果，调整该目前图场中横线的宽度，以接近该先前图场中相对应横线的宽度，且更根据宽度调整结果，重新取样该目前图场。依据申请专利范围第34项所述之装置，其中该计算单元包括一相位计算单元、一相位调整单元及一资料计算单元，该相位计算单元根据该位置调整单元的位置调整结果，计算相邻扫描讯号之间的距离，并根据计算出的距离及一固定取样间隔，计算取样点的相位，该相位调整单元根据该横线侦测单元的横线侦测结果及该先前图场的横线侦测结果，调整该相位计算单元计算出的取样点相位，以调整横线宽度，该资料计算单元根据该相位调整单元调整后的取样点相位，以内插方式重新计算该目前图场的扫描讯号。依据申请专利范围第35项所述之装置，其中该位置调整单元的位置调整结果是以扫描讯号的位移来表示，且位移值是正数时，代表往上移动，而位移值是负数时，代表往下移动，该相位计算单元计算距离的方式是：一扫描讯号与其上方扫描讯号之间的距离=(该上方扫描讯号的位移+1)-该扫描讯号的位移。依据申请专利范围第35项所述之装置，其中该相位计算单元计算取样点的方式是：目前剩余相位=二扫描讯号之间的总相位-上方取样点的相位，如果剩余相位>固定取样间格/上方取样点的上、下方扫描讯号之间的距离，则目前的变动取样间隔=固定取样间格/上方取样点的上、下方扫描讯号之间的距离，而目前取样点的相位=上方取样点的相位+目前的变动取样间隔，否则，目前取样点的相位=(固定取样间格-目前剩余相位×上方取样点的上、下方扫描讯号之间的距离)/目前取样点的上、下方扫描讯号之间的距离。依据申请专利范围第35项所述之装置，其中该相位调整单元是使用余弦函数来调整该相位计算单元计算出的取样点相位。依据申请专利范围第35项所述之装置，其中该资料计算单元计算扫描讯号的方式是：输出像素值=(调整后取样点的下方像素值-调整后取样点的上方像素值)×调整后取样点的相位/二扫描讯号之间的总相位+调整后取样点的上方像素值。