发明名称 Messanordnung und Verfahren zum Vermessen einer Oberfläche
摘要 Messanordnung zum Vermessen einer Oberfläche (18), umfassend eine Erfassungseinrichtung (7, 8; 58), die eingerichtet ist, um berührungslos erste Daten zu erfassen, die eine zweidimensionale oder dreidimensionale Abbildung eines Bereichs der Oberfläche (18) repräsentieren, und eine Messeinrichtung (3, 4, 5a, 5b, 5c, 5d, 6) zum Ermitteln zweiter Daten, die Raumkoordinaten wenigstens eines Punktes (14) der Oberfläche (18) repräsentieren, der in dem Bereich der Oberfläche (18) liegt, wobei die Erfassungseinrichtung (7, 8; 58) eingerichtet ist, um die ersten Daten mit einem flächig messenden oder flächig abbildenden Verfahren zu erfassen, wobei die Messeinrichtung (3, 4, 5a, 5b, 5c, 5d, 6) eingerichtet ist, um die zweiten Daten unter Verwendung eines amplituden- oder phasenmodulierten optischen Signals (13), insbesondere einer Folge von Lichtpulsen, zu ermitteln, und wobei die Messeinrichtung eingerichtet ist, um die Raumkoordinaten des wenigstens einen Punktes (14) mittels Multilateration zu ermitteln.
申请公布号 DE102009040991(B4) 申请公布日期 2012.11.08
申请号 DE200910040991 申请日期 2009.09.10
申请人 CARL ZEISS AG 发明人 HOELLER, FRANK, DR.;TREMONT, MARC, DR.
分类号 G01B11/24;G01B11/25;G01S7/486;G01S17/89 主分类号 G01B11/24
代理机构 代理人
主权项
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