发明名称 填充高深宽比沟槽的外延工艺方法
摘要 本发明公开了一种填充高深宽比沟槽的外延工艺方法,在衬底硅片上进行外延生长,形成一层外延层;在所述外延层上进行第一次沟槽光刻;进行沟槽刻蚀,沟槽的刻蚀深度达到工艺所需的最大深度;在所述沟槽内涂布化学填充材料,填充深度应大于等于沟槽深度;化学填充材料刻蚀,刻蚀深度应与后续第二次刻蚀的沟槽深度相当;进行第二次沟槽光刻,第二次光刻的沟槽宽度大于第一次光刻的沟槽宽度;进行第二次沟槽刻蚀,形成台阶式沟槽结构,刻蚀深度根据工艺需求确定;去除沟槽内的化学填充材料;在所述沟槽内进行N型外延生长,填充所述沟槽。本发明能够有效控制空洞出现的位置甚至使空洞消失。
申请公布号 CN102082082B 申请公布日期 2012.11.07
申请号 CN200910201876.1 申请日期 2009.11.30
申请人 上海华虹NEC电子有限公司 发明人 阚欢;吴鹏
分类号 H01L21/20(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I 主分类号 H01L21/20(2006.01)I
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人 戴广志
主权项 一种填充高深宽比沟槽的外延工艺方法,包括如下步骤:步骤一、在衬底硅片上进行外延生长,形成一层外延层;步骤二、在所述外延层上进行第一次沟槽光刻;步骤三、进行沟槽刻蚀,沟槽的刻蚀深度达到工艺所需的最大深度;其特征在于,还包括,步骤四、在所述沟槽内涂布化学填充材料,填充深度应大于等于沟槽深度;步骤五、化学填充材料刻蚀,刻蚀深度应与后续第二次刻蚀的沟槽深度相当;步骤六、进行第二次沟槽光刻,第二次光刻的沟槽宽度大于第一次光刻的沟槽宽度;步骤七、进行第二次沟槽刻蚀,形成台阶式沟槽结构,刻蚀深度根据工艺需求确定;步骤八、去除沟槽内的化学填充材料;步骤九、在所述沟槽内进行N型外延生长,填充所述沟槽。
地址 201206 上海市浦东新区川桥路1188号