发明名称 半导体工件热处理方法和装置
摘要 本发明提供了一种装置和方法,用于两个水平布置的热处理室内迅速并双面地热处理半导体工件,其中每个室包含一第一热处理源和一第二热处理源,两室之间以一可伸缩门隔开。该种双面热处理机制提高了热处理的效率以及均匀性,并减少了因热处理的应力不匹配所导致的半导体工件的变形。同时,加热室和冷却室可以同时对不同的半导体工件进行热处理,这样,整个装置的工作效率大大提高。
申请公布号 CN101399160B 申请公布日期 2012.11.07
申请号 CN200710046404.4 申请日期 2007.09.26
申请人 盛美半导体设备(上海)有限公司 发明人 马悦;何川;逄振旭;王晖;V·纳其
分类号 H01L21/00(2006.01)I;H01L21/02(2006.01)I;H01L21/324(2006.01)I;H01L21/67(2006.01)I 主分类号 H01L21/00(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一用于半导体工件热处理的装置,包括:水平相邻的加热室和冷却室;一传送装置,用于在加热室和冷却室之间传送半导体工件,其中所述的传送装置包含两个传送设备,该两个传送设备具有支撑臂,并且两个传送设备的支撑臂的长度是不同的;以及一可伸缩门,用于分隔加热室和冷却室;其中当加热过程或冷却过程开始的时候,可伸缩门移入加热室和冷却室之间。
地址 201600 上海市松江松蒸路900号210室