| 发明名称 | 用于测试集成电路的方法 | ||
| 摘要 | 本发明介绍了用于测试集成电路（100）的方法和集成电路（100）。该集成电路（100）具有内部测试结构，能够通过内部测试访问端子（106）访问该测试结构；并且具有控制总线（110），其通过控制端子（108）向外被导出，其中能够在运行模式和测试模式之间切换，从而在测试模式中通过控制端子（108）和控制总线（110）进行对测试访问端子（106）的访问以及由此进行集成电路（100）的测试。 | ||
| 申请公布号 | CN102770778A | 申请公布日期 | 2012.11.07 |
| 申请号 | CN201180011748.6 | 申请日期 | 2011.02.07 |
| 申请人 | 罗伯特·博世有限公司 | 发明人 | P.波因斯廷格尔;H.兰多尔;C.克瑙普;T.布劳恩;T.魏雅;S.维尔特;S.德伦;R.克雷默 |
| 分类号 | G01R31/3185(2006.01)I;G01R31/317(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/3185(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 李少丹;李家麟 |
| 主权项 | 用于测试集成电路（100）的方法，该集成电路具有内部测试结构，能够通过内部测试访问端子（106）访问该测试结构；并且具有控制总线（110），其通过控制端子（108）向外被导出，其中能够在运行模式和测试模式之间切换，从而在测试模式中通过控制端子（108）和控制总线（110）进行对测试访问端子（106）的访问以及由此进行集成电路（100）的测试。 | ||
| 地址 | 德国斯图加特 | ||