发明名称 |
一种精密量测觇标高的方法 |
摘要 |
本发明公开了一种精密量测觇标高的方法,使用觇标A、辅助棱镜C和全站仪B实现精密量测觇标高的测量;在控制点D上架设好觇标,整平对中好辅助棱镜C后,将觇标A和辅助棱镜均朝向全站仪B,在全站仪上测量觇标A和辅助棱镜C上的棱镜高程H1和H2;觇标高Ht为Ht=H1-H2+L1+L2所确定。本发明方法具有使用操作简单,测量精度高的优点。 |
申请公布号 |
CN102269585B |
申请公布日期 |
2012.11.07 |
申请号 |
CN201110111923.0 |
申请日期 |
2011.04.29 |
申请人 |
西南交通大学 |
发明人 |
杨雪峰;刘成龙 |
分类号 |
G01C5/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01C5/00(2006.01)I |
代理机构 |
成都信博专利代理有限责任公司 51200 |
代理人 |
张澎 |
主权项 |
一种精密量测觇标高的方法,其特征在于,使用觇标(A)、辅助棱镜(C)和全站仪(B)实现精密量测觇标高的测量;在控制点(D)上架设好觇标,整平对中好辅助棱镜(C)后,将觇标(A)和辅助棱镜均朝向全站仪(B),在全站仪上测量觇标(A)和辅助棱镜(C)上的棱镜高程H1和H2;觇标高Ht为Ht=H1‑H2+L1+L2所确定,式中L1为辅助棱镜杆的长度,L2为辅助棱镜杆顶端到辅助棱镜中心的长度。 |
地址 |
610031 四川省成都市二环路北一段111号西南交通大学科技处 |