发明名称 一种精密量测觇标高的方法
摘要 本发明公开了一种精密量测觇标高的方法,使用觇标A、辅助棱镜C和全站仪B实现精密量测觇标高的测量;在控制点D上架设好觇标,整平对中好辅助棱镜C后,将觇标A和辅助棱镜均朝向全站仪B,在全站仪上测量觇标A和辅助棱镜C上的棱镜高程H1和H2;觇标高Ht为Ht=H1-H2+L1+L2所确定。本发明方法具有使用操作简单,测量精度高的优点。
申请公布号 CN102269585B 申请公布日期 2012.11.07
申请号 CN201110111923.0 申请日期 2011.04.29
申请人 西南交通大学 发明人 杨雪峰;刘成龙
分类号 G01C5/00(2006.01)I 主分类号 G01C5/00(2006.01)I
代理机构 成都信博专利代理有限责任公司 51200 代理人 张澎
主权项 一种精密量测觇标高的方法,其特征在于,使用觇标(A)、辅助棱镜(C)和全站仪(B)实现精密量测觇标高的测量;在控制点(D)上架设好觇标,整平对中好辅助棱镜(C)后,将觇标(A)和辅助棱镜均朝向全站仪(B),在全站仪上测量觇标(A)和辅助棱镜(C)上的棱镜高程H1和H2;觇标高Ht为Ht=H1‑H2+L1+L2所确定,式中L1为辅助棱镜杆的长度,L2为辅助棱镜杆顶端到辅助棱镜中心的长度。
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