一种用于固态存储设备的容错设计方法

摘要

本发明公开了一种用于固态存储设备的容错设计方法，该方法在存储设备的电路板设计上增加备用的冗余存储颗粒，当设备在生产后端测试中或使用中发现有闪存出现故障时，使用冗余存储颗粒来替换故障颗粒，从而保证即使颗粒没有经过封装测试，也不会影响存储设备生产的优良率；同时，通过本发明采用增加冗余存储颗粒的方法，来有效延长设备的使用寿命，当设备中有闪存颗粒达到一定使用寿命之后，就会被冗余颗粒或闲置颗粒替换，从而通过这种不断地替换操作，来有效延长设备的使用寿命。该方法可以在设备生产测试和/或使用过程中实现。

主权项

一种用于固态存储设备的容错设计方法，在闪存阵列中设置至少一个冗余闪存颗粒，在设备生产测试和/或使用过程中进行容错设计，其特征在于，设备生产测试中的容错设计方法包括下述步骤：(A1)固态存储处理器对固体存储设备的闪存阵列中的当用闪存颗粒进行检查；(A2)判断当用闪存颗粒是否出现故障，如果是，则对其进行标记，并记录故障信息；转入步骤(A3)，否则，直接进入步骤(A3)；(A3)判断闪存阵列中的当用闪存颗粒是否全部检查完毕，如果是，转入步骤(A4)，否则，对闪存阵列中的下一个当用闪存颗粒进行检查，然后转入步骤(A2)；(A4)检查完所有当用闪存颗粒之后，若有故障当用闪存颗粒，则利用冗余闪存颗粒替换故障率最大的当用闪存颗粒，将替换的信息在固态存储处理器中进行更改，转入步骤(A6)；否则执行步骤(A5)操作；(A5)将冗余闪存颗粒作为固态存储处理器的后台空间，用于执行内部操作；(A6)结束；使用过程中进行容错设计方法包括下述步骤：(B1)固态存储处理器对固体存储设备的闪存阵列中的当用闪存颗粒进行监测；(B2)在监测的过程中，当主机系统对固体存储设备中的当用闪存颗粒介质有擦除操作时，就对每个操作的最小单位块进行计数操作；这样一次擦除操作，计数值就累加1；(B3)判断所述计数值是否超过预先设定的阈值，如果是，进入步骤(B4)，否则转入步骤(B1)继续进行监视；(B4)将超过阈值的当用闪存颗粒进入数据迁移的任务队列，按照设定好的优先级进行有序的数据迁移工作；(B5)需要迁移的当用闪存颗粒根据自己通道对应的冗余闪存颗粒选择迁移的目标，之后在程序后台完成数据的搬移工作。