发明名称 RB-SiC基底反射镜表面改性层结构及制备方法
摘要 本发明涉及一种RB-SiC基底反射镜表面改性层结构,该结构包括对RB-SiC基底表面Si相成分碳化后得到的SiC相成分,在RB-SiC基底SiC相成分与Si相成分碳化后得到的SiC相成分表面制备的类金刚石膜缓冲层,在类金刚石膜缓冲层上生长的均匀致密的Si改性层。本发明借助离子注入手段,首先将RB-SiC基底表面Si相成分碳化成SiC成分,然后再在SiC成分上生长一层类金刚石膜缓冲层,最后借助高能离子辅助手段在类金刚石膜缓冲层上生长Si改性层,Si改性层较为致密均匀,大大改善了其抛光特性,使抛光后基底表面的光学质量得到较大提升,为RB-SiC基底反射镜的空间应用提供了有力的保障。
申请公布号 CN102094179B 申请公布日期 2012.11.07
申请号 CN201010614356.6 申请日期 2010.12.30
申请人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 发明人 申振峰;高劲松
分类号 C23C14/48(2006.01)I;C23C14/30(2006.01)I;C23C14/02(2006.01)I;C23C14/06(2006.01)I;C23C14/18(2006.01)I;G02B1/10(2006.01)I 主分类号 C23C14/48(2006.01)I
代理机构 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人 王淑秋
主权项 一种RB‑SiC基底反射镜表面改性层结构,所述RB‑SiC为反应烧结SiC,该反应烧结SiC基底表面具有Si相成分和SiC相成分;其特征在于包括对RB‑SiC基底表面Si相成分碳化后得到的SiC相成分(2),在RB‑SiC基底SiC相成分(12)与Si相成分(11)碳化后得到的SiC相成分(2)表面制备的类金刚石膜缓冲层(3),在类金刚石膜缓冲层(3)上生长的均匀致密的Si改性层(4)。
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