发明名称 一种用于薄膜杨氏模量测量的系统
摘要 本发明公开了一种用于薄膜杨氏模量测量的系统,包括:脉冲激光器,所述脉冲激光器发射脉冲激光经第一扩束镜准直扩束后,被3:7分光镜分成7/10脉冲激光和3/10脉冲激光,所述7/10脉冲激光经柱面聚焦透镜聚焦在被测样品的表面,激发产生声表面波信号;所述声表面波信号经过第一检测通道和/或第二检测通道转换为电信号,并通过示波器显示后被传输至计算机进行处理。该系统不仅拥有压电激光声表面波检测技术信号幅度大、在扰动大的测试环境中适用性强等优点,也继承了差分共焦激光声表面波检测技术快速、准确、非接触测量及信噪比高等优势,适用性更强,适用范围更广。同时,基于差分共焦激光声表面波检测技术高测量带宽的优点,大大提高了测量分辨率。
申请公布号 CN102768184A 申请公布日期 2012.11.07
申请号 CN201210255907.3 申请日期 2012.07.19
申请人 天津大学 发明人 丹特·多伦雷;杨斐;陈琨;路子沫;李艳宁;傅星;胡小唐
分类号 G01N21/17(2006.01)I 主分类号 G01N21/17(2006.01)I
代理机构 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人 温国林
主权项 一种用于薄膜杨氏模量测量的系统,包括:脉冲激光器(1),所述脉冲激光器(1)发射脉冲激光经第一扩束镜(2)准直扩束后,被3:7分光镜(3)分成7/10脉冲激光和3/10脉冲激光,所述7/10脉冲激光经柱面聚焦透镜(4)聚焦在被测样品(5)的表面,激发产生声表面波信号;其特征在于,所述声表面波信号经过第一检测通道和/或第二检测通道转换为电信号,并通过示波器(27)显示后被传输至计算机(28)进行处理。
地址 300072 天津市南开区卫津路92号