发明名称 |
光反射测定方法以及装置 |
摘要 |
本发明的目的在于提供不依赖测定距离而可以得到高的精度的光反射测定方法以及光反射测定装置。本发明提供一种光反射测定方法以及光反射测定装置,使用光频域反射测定方法(OFDR)对相对光传播方向的测定对象中的背向散射光强度的分布进行测定,其特征在于,设置对频率扫描光源(1)的相干特性进行监视的相干监视部(12),根据该监视的结果校正测定部(11)中的测定结果。 |
申请公布号 |
CN101611301B |
申请公布日期 |
2012.11.07 |
申请号 |
CN200880004810.7 |
申请日期 |
2008.02.21 |
申请人 |
日本电信电话株式会社 |
发明人 |
樊昕昱;伊藤文彦;古敷谷优介 |
分类号 |
G01M11/02(2006.01)I;G01M11/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01M11/02(2006.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人 |
李今子 |
主权项 |
一种光反射测定方法,是将来自光频率被扫描的频率扫描光源的输出光射入到测定对象而对该测定对象中的相对传播方向的反射率的分布进行测定的光频域反射测定方法,其特征在于,对将上述输出光分支而得到的监视光的相干特性进行监视,对将上述输出光分支而得到的测定光与来自上述测定对象的背向散射光的干涉拍频信号进行检测,根据上述监视光的相干特性,对基于上述干涉拍频信号的测定结果进行校正。 |
地址 |
日本东京 |