发明名称 1米立式接触式干涉仪
摘要 本实用新型涉及1米立式接触式干涉仪,包括基座、光学系统、探头组件、工作台以及调节组件,探头组件包括探头支架以及固定在探头支架上的探头,所述光学系统与探头支架固定连接,探头正对工作台安装,调节组件包括双立柱、丝杠、设置在双立柱上的滑块、设置在丝杠一端的旋转手柄以及设置在滑块上的锁紧螺钉,旋转手柄驱动丝杠带动滑块沿双立柱运动,探头支架与滑块固定连接。本实用新型解决了对于现有的大量块采用一般测量仪器无法测量,而测长机又非常昂贵的技术问题,解决了量块修理中的测量方法的缺失和大尺寸、高精度特殊形状的零件无法测量的尴尬。
申请公布号 CN202522192U 申请公布日期 2012.11.07
申请号 CN201120496992.3 申请日期 2011.12.02
申请人 西安航天计量测试研究所 发明人 朱敬华;任和汉
分类号 G01B9/02(2006.01)I 主分类号 G01B9/02(2006.01)I
代理机构 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人 张倩
主权项 1米立式接触式干涉仪,其特征在于:包括基座、光学系统、探头组件、工作台以及调节组件,所述探头组件包括探头支架以及固定在探头支架上的探头,所述光学系统与探头支架固定连接,所述探头正对工作台安装,所述调节组件包括双立柱、丝杠、设置在双立柱上的滑块、设置在丝杠一端的旋转手柄以及设置在滑块上的锁紧螺钉,所述旋转手柄驱动丝杠带动滑块沿双立柱运动,所述探头支架与滑块固定连接。
地址 710100 陕西省西安市15号信箱7分箱
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