发明名称 |
粒子分析仪用参照物 |
摘要 |
本发明提供一种可以检测出以往参照物无法检测出的粒子分析仪故障的参照物。上述参照物是粒子分析仪用参照物,该粒子分析仪对生物试样中所含被测粒子用一定的色素进行荧光染色处理,再对经荧光染色的被测粒子进行分析。参照物由经上述荧光染色处理的第一标准粒子和预先经染色制备的、可以显示一定荧光强度的第二标准粒子组成。本发明还提供用参照物推断粒子分析仪的异常部位的方法和装置。 |
申请公布号 |
CN1880942B |
申请公布日期 |
2012.11.07 |
申请号 |
CN200610098740.9 |
申请日期 |
2006.07.12 |
申请人 |
希森美康株式会社 |
发明人 |
川手康德 |
分类号 |
G01N15/14(2006.01)I;G01N21/64(2006.01)I;G01N33/50(2006.01)I |
主分类号 |
G01N15/14(2006.01)I |
代理机构 |
北京市安伦律师事务所 11339 |
代理人 |
刘良勇 |
主权项 |
一种粒子分析仪用参照物,其特征在于:所述粒子分析仪对生物试样中所含被测粒子进行第一荧光色素的荧光染色处理,然后分析被荧光染色的被测粒子;所述参照物包括:经所述荧光染色处理而用第一荧光色素荧光染色的、预先不含有荧光色素的第一标准粒子;及预先含有第二荧光色素的、且实质上没有被所述第一荧光色素染色的第二标准粒子,所述第二荧光色素与第一荧光色素不同。 |
地址 |
日本兵库县神户市中央区脇浜海岸通1丁目5番1号5-1 |