发明名称 特别是用于测量薄层厚度的装置的测量探针
摘要 一种用于测量薄层厚度的装置的测量探针,其具有:包括至少一个感测器元件(17)的外壳(14),所述的感测器元件沿所述的外壳(14)的纵轴(16)至少轻微可移动地容纳于外壳(14);以及接触球形罩(21),其配有至少一个感测器元件(17)以用于将所述的探针(11)放置在测量物体的表面上,其中,所述的至少一个感测器元件(17)沿所述的外壳(14)的纵轴(16)由保持部件(18)容纳,所述的保持部件设计成弹性的承载弹簧,并且其固定在所述的外壳(14)上。
申请公布号 CN1975319B 申请公布日期 2012.11.07
申请号 CN200610171829.3 申请日期 2006.11.14
申请人 赫尔穆特·费希尔地产两合公司 发明人 H·费希尔
分类号 G01B7/00(2006.01)I;G01B7/06(2006.01)I;G01B1/00(2006.01)I 主分类号 G01B7/00(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 温大鹏;胡强
主权项 一种用于测量薄层厚度的装置的测量探针,其具有:包括至少一个感测器元件(17)的外壳(14),所述的感测器元件沿所述的外壳(14)的纵轴(16)至少轻微可移动地略微深入外壳(14)中;以及接触球形罩(21),其配有至少一个感测器元件(17)以用于将所述的探针(11)放置在测量物体的表面上,其特征在于,所述的至少一个感测器元件(17)由保持部件(18)支撑,所述的保持部件设计成沿所述的外壳(14)的纵轴(16)的弹性的承载弹簧,并且其固定在所述的外壳(14)上。
地址 德国辛德尔芬根