半导体集成电路的测试电路和测试方法

摘要

本发明涉及一种半导体集成电路的测试电路和测试方法。半导体集成电路的测试电路包括穿通通孔、电压驱动单元和判定单元。所述穿通通孔接收输入电压。所述电压驱动单元与所述穿通通孔连接以接收所述输入电压，响应于测试控制信号改变所述输入电压的电平，并产生测试电压。所述判定单元比较所述输入电压与所述测试电压以输出所得信号。

主权项

一种用于测试半导体集成电路中的穿通通孔的测试电路，包括：电压驱动单元，所述电压驱动单元被配置成响应于测试控制信号改变从穿通通孔传送来的输入电压的电平并产生测试电压；以及判定单元，所述判定单元被配置成比较输入电压与测试电压并输出指示穿通通孔是故障穿通通孔还是正常穿通通孔的所得信号。