发明名称 |
一种测试仪 |
摘要 |
本发明涉及一种测试仪,包括交流电源电路、相位产生电路、交流漏电调节电路和时间检测电路;相位产生电路包括控制按钮电路、电流滞后电压的第一半波整流电路、第二半波整流电路、第三半波整流电路、直流生成电路、以及用于根据所述第一半波整流电路、第二半波整流电路和第三半波整流电路输出的控制信号在所述模拟漏电回路中分别生成相应半波整流电流的可控硅电流控制电路。本发明结构较为合理,能够满足使用者的特殊需求。 |
申请公布号 |
CN102759708A |
申请公布日期 |
2012.10.31 |
申请号 |
CN201210262477.8 |
申请日期 |
2012.07.27 |
申请人 |
苏州贝腾特电子科技有限公司 |
发明人 |
胡小青 |
分类号 |
G01R31/327(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/327(2006.01)I |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
一种测试仪,包括交流电源电路(1)、相位产生电路(2)、交流漏电调节电路(3)和时间检测电路(4);其特征在于:相位产生电路(2)包括控制按钮电路、电流滞后电压0°的第一半波整流电路、电流滞后电压90°的第二半波整流电路、电流滞后电压135°的第三半波整流电路、6mA直流生成电路、以及用于根据所述第一半波整流电路、第二半波整流电路和第三半波整流电路输出的控制信号在所述模拟漏电回路中分别生成电流滞后电压0°的半波整流电流、电流滞后电压90°的半波整流电流、电流滞后电压135°的半波整流电流和含有6mA直流的电流滞后电压0°的半波整流电流的可控硅电流控制电路。 |
地址 |
215121 江苏省苏州市工业园区跨南路大丰收广场1幢809 |