发明名称 高纯粒状硅及其制造方法
摘要 本发明涉及高纯粒状硅及其制造方法,公开了高纯半导体级粒状硅合成物及其制造方法。通过在第一化学气相沉积(CVD)反应器中在硅晶种上沉积硅,由此使晶种生长成较大的二级晶种,可以制造商业量的粒状硅。在第二CVD反应器中在二级晶种上沉积另外的硅。在第三反应器中减少粉尘。本文所公开的方法可实现比传统实践更高的生产量和更好的收率。
申请公布号 CN101734664B 申请公布日期 2012.10.31
申请号 CN200910261505.2 申请日期 2005.11.10
申请人 MEMC电子材料有限公司 发明人 J·伊布拉希姆;M·G·艾维;T·D·特鲁昂
分类号 C01B33/02(2006.01)I 主分类号 C01B33/02(2006.01)I
代理机构 北京市中咨律师事务所 11247 代理人 林柏楠;刘金辉
主权项 粒状硅合成物,包含总重量为至少300千克的多个自由流动的硅粒子,其中这些粒子具有小于0.2ppba的平均过渡金属浓度。
地址 美国密苏里州