一种带频率测试功能的存储器测试设备

摘要

本实用新型公开了一种带频率测试功能的存储器测试设备，包括存储器测试设备，所述存储器测试设备包括测试模块和测试引脚，所述存储器测试设备的测试模块与所述存储器测试设备的测试引脚连接，其中，还包括控制模块、控制开关和频率测试模块；所述控制模块与所述存储器测试设备的测试模块、所述控制开关及所述测试引脚分别连接，所述控制开关与所述存储器测试设备的测试模块及所述频率测试模块分别连接，所述频率测试模块与所述测试引脚连接。本实用新型的有益效果是：扩展了存储器测试设备品的频率测试功能，使得测试存储器芯片常规测试项目和频率测试能在同一台设备上一次连续测试完成。

主权项

一种带频率测试功能的存储器测试设备，包括存储器测试设备，所述存储器测试设备包括测试模块和测试引脚，所述存储器测试设备的测试模块与所述存储器测试设备的测试引脚连接，其特征在于，还包括控制模块、控制开关和频率测试模块；所述控制模块与所述存储器测试设备的测试模块、所述控制开关及所述测试引脚分别连接，所述控制开关与所述存储器测试设备的测试模块及所述频率测试模块分别连接，所述频率测试模块与所述测试引脚连接。