发明名称 |
Halbleitervorrichtung |
摘要 |
Eine Halbleitervorrichtung umfasst: einen Transistorbereich mit einem IGBT mit einer Gateelektrode (7) und einer Emitterelektrode (9); einen Abschlussbereich, der um den Transistorbereich angeordnet ist; und einen Extraktionsbereich, der zwischen dem Transistor- und dem Abschlussbereich angeordnet ist und redundante Ladungsträger extrahiert. Eine Schicht (11) vom P-Typ ist auf einer Driftschicht (1) vom N-Typ im Extraktionsbereich angeordnet. Die Schicht vom P-Typ ist mit der Emitterelektrode verbunden. Eine Blindgateelektrode (13) ist über einen Isolationsfilm (12) auf der Schicht vom P-Typ angeordnet. Die Blindgateelektrode ist mit der Gateelektrode verbunden. Die Lebensdauer der Ladungsträger im Abschlussbereich ist kürzer als die Lebensdauer der Ladungsträger im Transistorbereich und im Extraktionsbereich.
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申请公布号 |
DE102012201950(A1) |
申请公布日期 |
2012.10.31 |
申请号 |
DE201210201950 |
申请日期 |
2012.02.09 |
申请人 |
MITSUBISHI ELECTRIC CORP. |
发明人 |
SADAMATSU, KOJI;CHEN, ZE;NAKAMURA, KATSUMI |
分类号 |
H01L27/06;H01L29/06;H01L29/739 |
主分类号 |
H01L27/06 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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