发明名称 |
横向双扩散金属氧化物半导体晶体管及其制造方法 |
摘要 |
本发明提供一种横向双扩散金属氧化物半导体(LDMOS)晶体管及其制造方法,在依据本发明的一种实施例中,LDMOS晶体管包括:(1)衬底上的n掺杂深n阱区域(DNW);(2)LDMOS晶体管的源极区域和漏极区域之间的栅氧化层和漏氧化层,所述栅氧化层与源极区域相邻,所述漏氧化层与漏极区域相邻;(3)在栅氧化层和部分漏氧化层之上的导电栅极;(4)源极区域中的p型掺杂p体区域(p-doped p-body);(5)漏极区域中的n型掺杂区域;(6)源极区域的p型掺杂p体区域中的第一n型掺杂n+区域和p型掺杂p+区域,并且所述第一n型掺杂n+区域和p型掺杂p+区域相邻;(7)漏极区域中的第二n型掺杂n+区域。 |
申请公布号 |
CN101656215B |
申请公布日期 |
2012.10.31 |
申请号 |
CN200910159413.3 |
申请日期 |
2009.07.02 |
申请人 |
矽力杰半导体技术(杭州)有限公司;矽力杰公司 |
发明人 |
游步东 |
分类号 |
H01L21/336(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/336(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种横向双扩散金属氧化物半导体晶体管的制造方法,所述横向双扩散金属氧化物半导体晶体管包括衬底上的源极区域,漏极区域和栅极区域,其特征在于,包括以下步骤:在该衬底表面注入n型掺杂剂以形成n型掺杂深n‑阱区域;利用第一类型区域硅氧化工艺形成场氧化层;在所述晶体管的源极区域和漏极区域之间形成栅氧化层和漏氧化层,所述栅氧化层与源极区域相邻,所述漏氧化层与漏极区域相邻;所述漏氧化层采用第二类型区域硅氧化工艺形成;使用导电材料涂覆所述栅氧化层和部分所述漏氧化层形成栅极;在所述源极区域注入p型掺杂剂以形成p型掺杂p体区域;在所述漏极区域注入n型掺杂剂以形成n型掺杂漏极区域;在所述源极区域注入n型掺杂剂以形成第一n型掺杂n+区域;在所述漏极区域注入n型掺杂剂以形成第二n型掺杂n+区域;在所述源极区域注入p型掺杂剂以形成p型掺杂p+区域。 |
地址 |
310012 浙江省杭州市文三路90号东部软件园科技大厦A1501 |