发明名称 METHOD FOR MONITORING THE AMOUNT OF CONTAMINATION IMPARTED INTO SEMICONDUCTOR WAFERS DURING WAFER PROCESSING
摘要
申请公布号 EP2517234(A2) 申请公布日期 2012.10.31
申请号 EP20100813030 申请日期 2010.12.17
申请人 MEMC ELECTRONIC MATERIALS, INC. 发明人 LIBBERT, JEFFREY, L.;FEI, LU
分类号 H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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