Blockinterner Ausgleich für nachlassende Funktionsfähigkeit von Speichern

摘要

Ein Verfahren zum blockinternen Ausgleich von nachlassender Funktionsfähigkeit innerhalb von Halbleiterspeichern, bei denen ein Nachlassen der Funktionsfähigkeit eintreten kann und die eine Vielzahl von Speicherzellen aufweisen, beinhaltet den folgenden Schritt: Schreiben auf mindestens einige bestimmte der Vielzahl von Speicherzellen in einer nicht gleichförmigen Weise, um die nachlassende Funktionsfähigkeit der einigen bestimmten der Vielzahl von Speicherzellen innerhalb des Halbleiterspeichers auf blockinterner Ebene auszugleichen. Wenn zum Beispiel ein Verhalten mindestens einiger der Vielzahl von Speicherzellen nicht charakterisiert ist, kann das Verfahren Folgendes umfassen: Charakterisieren eines Verhaltens mindestens einiger der Vielzahl von Speicherzellen und Schreiben auf mindestens einige bestimmte der Vielzahl von Speicherzellen auf der Grundlage des charakterisierten Verhaltens und in einer nicht gleich.