发明名称 常温下液体折射率光电机械检测仪
摘要 本实用新型涉及一种常温下液体折射率光电机械检测仪,属于光学检测领域;检测仪水平支架<img file="dest_path_image001.GIF" wi="8" he="16" />连接角度刻度盘<img file="118224dest_path_image001.GIF" wi="8" he="16" />,水平支架<img file="314850dest_path_image002.GIF" wi="24" he="16" />连接角度刻度盘<img file="dest_path_image003.GIF" wi="16" he="16" />,法线杆分别与两个角度刻度盘连接,半导体激光器一端固定在角度刻度盘<img file="492016dest_path_image001.GIF" wi="8" he="16" />的0角度顶点处,水平支架<img file="494607dest_path_image003.GIF" wi="16" he="16" />和样品池连接,样品池的法线刻度线与法线杆重合,PSD光电敏感位置探测器一端与其下方的角度刻度盘<img file="17992dest_path_image003.GIF" wi="16" he="16" />连接,形成一个连动小杆,其转动角度平行于折射光线,另一端与其样品池底部连接,PSD光电敏感位置探测器与半导体激光器共用一个电源相接。本实用新型测量结果精确度高,操作简便,体积小,便于携带安装,适用于教学实验或常温下样本的检测。
申请公布号 CN202512057U 申请公布日期 2012.10.31
申请号 CN201220058505.X 申请日期 2012.02.22
申请人 昆明理工大学 发明人 宫爱玲;李鑫
分类号 G01N21/41(2006.01)I 主分类号 G01N21/41(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 1.一种常温下液体折射率光电机械检测仪,其特征在于:检测仪由电源,半导体激光器,法线杆,样品池,角度刻度盘<img file="878119DEST_PATH_IMAGE001.GIF" wi="5" he="21" />,竖直支架,水平支架<img file="808160DEST_PATH_IMAGE001.GIF" wi="5" he="21" />,水平支架<img file="348863DEST_PATH_IMAGE002.GIF" wi="11" he="21" />,水平支架<img file="664437DEST_PATH_IMAGE003.GIF" wi="15" he="21" />,角度刻度盘<img file="265183DEST_PATH_IMAGE002.GIF" wi="11" he="21" />,PSD光电敏感位置探测器,底座组成;底座通过竖直支架和三个水平支架连接,水平支架<img file="915476DEST_PATH_IMAGE001.GIF" wi="5" he="21" />,水平支架<img file="259870DEST_PATH_IMAGE002.GIF" wi="11" he="21" />,水平支架<img file="695530DEST_PATH_IMAGE003.GIF" wi="15" he="21" />从高到低依次固定,水平支架<img file="201598DEST_PATH_IMAGE001.GIF" wi="5" he="21" />连接角度刻度盘<img file="103302DEST_PATH_IMAGE001.GIF" wi="5" he="21" />,水平支架<img file="923490DEST_PATH_IMAGE003.GIF" wi="15" he="21" />连接角度刻度盘<img file="275974DEST_PATH_IMAGE002.GIF" wi="11" he="21" />,法线杆分别与两个角度刻度盘连接,法线杆上端和角度刻度盘<img file="952943DEST_PATH_IMAGE001.GIF" wi="5" he="21" />的0度重合,法线杆下端与角度刻度盘<img file="577828DEST_PATH_IMAGE002.GIF" wi="11" he="21" />的0度重合,法线杆与两个角度刻度盘共面,半导体激光器一端固定在角度刻度盘<img file="201708DEST_PATH_IMAGE001.GIF" wi="5" he="21" />的0角度顶点处,半导体激光器和角度刻度盘<img file="408698DEST_PATH_IMAGE001.GIF" wi="5" he="21" />一同转动,水平支架<img file="522148DEST_PATH_IMAGE002.GIF" wi="11" he="21" />和样品池连接,样品池的法线刻度线与法线杆重合,PSD光电敏感位置探测器一端与其下方的角度刻度盘<img file="135794DEST_PATH_IMAGE002.GIF" wi="11" he="21" />连接,形成一个连动小杆,其转动角度平行于折射光线,另一端与其样品池底部连接,可在样品池底部左右滑动;PSD光电敏感位置探测器与半导体激光器分别和电源相接。
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