发明名称 |
Positionsmesseinrichtung sowie Maßstab und Verfahren zur Herstellung eines Maßstabs |
摘要 |
<p>Die vorliegende Erfindung betrifft eine Positionsmesseinrichtung mit einem induktiv abtastbaren Maßstab (1). Die Positionsmesseinrichtung weist eine Abtasteinheit (2) zur Abtastung von Teilungselementen (12) des Maßstabs (1) auf, hierzu weist die Abtasteinheit (2) eine Erregereinheit (21) zur Erzeugung eines elektromagnetischen Wechselfeldes sowie eine Detektoreinheit (22) zur Detektion des von den Teilungselementen (12) positionsabhängig modulierten elektromagnetischen Wechselfeldes auf. Der Maßstab (1) besteht aus einem vorzugsweise durch Kaltwalzplattieren geschaffenen Schichtstapel (10) mit einem Substrat (103), das die mechanischen Eigenschaften des Maßstabs (1) maßgebend bestimmt, einer Trägerschicht (102) aus ferromagnetischem Material mit hoher Permeabilität und einer darauf befindlichen, die Teilungselemente (12) bildenden Teilungsschicht (101) aus elektrisch gut leitfähigem Material.</p> |
申请公布号 |
DE102011007756(A1) |
申请公布日期 |
2012.10.25 |
申请号 |
DE20111007756 |
申请日期 |
2011.04.20 |
申请人 |
DR. JOHANNES HEIDENHAIN GMBH |
发明人 |
FRANK, ALEXANDER;TIEMANN, MARC OLIVER;HEUMANN, MARTIN, DR. |
分类号 |
G01B7/02;G01D5/244;G11B5/667 |
主分类号 |
G01B7/02 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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