发明名称 |
一种平面发光设备区域校正方法 |
摘要 |
本发明公开了一种平面发光设备区域校正方法,包括:A1:分基色点亮所述平面发光设备,使用成像设备分别采集各基色的区域图像;A2:分析处理所述图像信息得到区域平均亮度信息和/或区域平均色度信息;A3:根据预设置目标参数和所述区域平均亮度信息和/或区域平均色度信息得到区域校正系数;A4:将所述区域校正系数下载存储于存储装置。 |
申请公布号 |
CN101923825B |
申请公布日期 |
2012.10.24 |
申请号 |
CN201010236942.1 |
申请日期 |
2010.07.27 |
申请人 |
深圳市中庆微科技开发有限公司 |
发明人 |
邵寅亮;罗瑶 |
分类号 |
G09G3/20(2006.01)I;G09G3/32(2006.01)I |
主分类号 |
G09G3/20(2006.01)I |
代理机构 |
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 |
代理人 |
丁建春 |
主权项 |
一种平面发光设备的区域校正方法,其特征在于,包括:A1:分基色点亮所述平面发光设备,使用成像设备分别采集各基色的图像信息;A2:分析处理所述图像信息,选取至少一区域,得到所述区域的区域平均信息;其中,所述区域平均信息为区域平均亮度信息和/或区域平均色度信息;所述A2包括以下步骤:A21:确定所述平面发光设备的若干区域分割点和若干边界点;A22:点亮所述平面发光设备中对应各所述分割点和所述边界点的像素点,采集点阵图像,采用所述点阵图像中被点亮的某一像素点为参照原点,获取所述点阵图像中各个被点亮的像素点的相对坐标;A23:根据各个所述像素点的相对坐标,获得由所述区域分割点和所述边界点分割得到的区域平均亮度信息和/或区域平均色度信息;A3:根据预设置目标参数和所述区域平均信息,得到用于进行区域校正的区域校正系数;A4:将所述区域校正系数存储于存储装置。 |
地址 |
518040 深圳市福田区车公庙工业区泰然211栋工业厂房第7层706 |