发明名称 利用锗浓缩技术制备SiGe或Ge纳米线的方法
摘要 本发明提供一种利用锗浓缩技术制备SiGe或Ge纳米线的方法,该方法通过将图形化和锗浓缩的方法相结合,获得一种保证产量和质量的SiGe和Ge纳米线的可控生长。本发明可以获得均匀而笔直的Ge或SiGe纳米线阵列,并且通过对氧化时间的控制可以获得不同组分的SiGe纳米线、以及Ge纳米线,最终形成的纳米线长度可达几百微米,直径达到几十纳米,通过图形的设计为之后纳米线器件打下基础。
申请公布号 CN102751232A 申请公布日期 2012.10.24
申请号 CN201210225391.8 申请日期 2012.07.02
申请人 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 发明人 狄增峰;叶林;赵清太;张苗
分类号 H01L21/762(2006.01)I 主分类号 H01L21/762(2006.01)I
代理机构 上海光华专利事务所 31219 代理人 李仪萍
主权项 一种利用锗浓缩技术制备SiGe或Ge纳米线的方法,其特征在于,至少包括:1)利用智能剥离工艺制备出SGOI结构;2)利用离子束刻蚀工艺在所述SGOI结构中的SiGe层上刻蚀出预定尺寸的待处理SiGe纳米线阵列;3)对所述步骤2)的结构进行锗浓缩,并控制锗浓缩的工艺条件以得到表面被SiO2层所包裹的预定尺寸的新SiGe纳米线或Ge纳米线阵列;4)利用HF分别腐蚀掉包裹各该新SiGe纳米线或Ge纳米线表面的SiO2层,得到新SiGe纳米线或Ge纳米线阵列。
地址 200050 上海市长宁区长宁路865号